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I.C.T-Q518D
I.C.T
In-Circuit Test ICT Equipment
| Quantité: | |
|---|---|
Équipé de la technologie de test de jet EC
Conception de la carte switch CMOS + replay
Véritable technologie de test à large bande
Interface win7 humanisée, opération simple et facile à utiliser
Vue puissante du tableau
Technologie de test à cinq fils, jusqu'à quatre composants terminaux peuvent être testés
Débogage du programme de test automatique ATPD
Améliorer les rapports d’analyse statistique et surveiller efficacement la qualité de la production
| Modèle | I.C.T-Q518D |
| PCB Taille | 500 mm x 380 mm (STANDARD) |
| Points de test | 256 points Standard (1024 points est facultatif) |
| Changer de carte | 128/pot |
| Points isolés | 10/cart |
| La vitesse d'essai | 0,5sec/1024 points (Ouvert/Court) 2 ms ~ 40 ms/pas (composant) |
| Plage de test | Résistance 0,1 Ω ~ 40 M Ω La précision est de 0,05 Ω ~ 100 M Ω (2 fils) ± 1 % - 5 % (quatre fils) 0,05 Ω. Capacité 1pf ~ 40MF précision ± 2%-5%. Inductance 1uh ~ 50h, précision 2% - 5%. Diodes 0,1 ~ 6 V précision ± 1 %-3 %. Diode de tension stabilisée 0,1 ~ 15 V précision ± 1 %-3 %. Mesure de la tension de saturation VCE à trois bornes de la valeur β du transistor. Test à trois bornes du transistor à effet de champ VDS, CD, RD (on). Coupleur optique et relais, avec quatre bornes pour tester sa tension de conduction ou sa résistance. |
| Source de courant | C.A. : 100~240,50/60HZ, 3Kw |
| Dimension(mm) | 830*830*1600 |
| Poids | Environ: 170 kg |
* Les données sont obtenues à une température ambiante de 25 ℃ et une humidité de 60 %
* I.C.T continue de travailler sur la qualité et les performances, les spécifications et l'apparence peuvent être mises à jour sans préavis particulier.
Équipé de la technologie de test de jet EC
Conception de la carte switch CMOS + replay
Véritable technologie de test à large bande
Interface win7 humanisée, opération simple et facile à utiliser
Vue puissante du tableau
Technologie de test à cinq fils, jusqu'à quatre composants terminaux peuvent être testés
Débogage du programme de test automatique ATPD
Améliorer les rapports d’analyse statistique et surveiller efficacement la qualité de la production
| Modèle | I.C.T-Q518D |
| PCB Taille | 500 mm x 380 mm (STANDARD) |
| Points de test | 256 points Standard (1024 points est facultatif) |
| Changer de carte | 128/pot |
| Points isolés | 10/cart |
| La vitesse d'essai | 0,5sec/1024 points (Ouvert/Court) 2 ms ~ 40 ms/pas (composant) |
| Plage de test | Résistance 0,1 Ω ~ 40 M Ω La précision est de 0,05 Ω ~ 100 M Ω (2 fils) ± 1 % - 5 % (quatre fils) 0,05 Ω. Capacité 1pf ~ 40MF précision ± 2%-5%. Inductance 1uh ~ 50h, précision 2% - 5%. Diodes 0,1 ~ 6 V précision ± 1 %-3 %. Diode de tension stabilisée 0,1 ~ 15 V précision ± 1 %-3 %. Mesure de la tension de saturation VCE à trois bornes de la valeur β du transistor. Test à trois bornes du transistor à effet de champ VDS, CD, RD (on). Coupleur optique et relais, avec quatre bornes pour tester sa tension de conduction ou sa résistance. |
| Source de courant | C.A. : 100~240,50/60HZ, 3Kw |
| Dimension(mm) | 830*830*1600 |
| Poids | Environ: 170 kg |
* Les données sont obtenues à une température ambiante de 25 ℃ et une humidité de 60 %
* I.C.T continue de travailler sur la qualité et les performances, les spécifications et l'apparence peuvent être mises à jour sans préavis particulier.
